 課程名稱 |
積體電路測試技術（實作課） |
| 課程內容 |
課程目的: 本課程為積體電路測試技術課程，期讓學員深入瞭解測試技術。邀請測試領域的專家，詳細介紹傳統與最先進的測試與可測試設計技術。學員在學習之後，不但能夠解決多樣化積體電路(IC)測試的問題，更能夠在設計之中加入測試的概念，設計出高品質與低測試成本的IC。 課程大綱: 1. Testable Digital Design 2. Low-power Testing 3. Test-data Compression 4. Memory Testing 5. Test-structure Design 6. Wafer Acceptance Testing 7. Delay Testing |
| 先修課程 |
| 上課日期 | 上課時段 | 授課老師 | 報名截止日 | 上課地點 | 報名 | 課程費用 |
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| 20181001-20181011 | 每周一、四Pm18:30~21:30 | 趙家佐 教授 | 20181001 | 交通大學工程四館教室 | 報名已截止 | 4000 |