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課程類別：半導體 (執行單位 : 國立交通大學)
| 課程名稱 | 課程介紹 | 收費方式 |
|---|---|---|
| 積體電路測試技術（實作課）**報名已截止** | 課程目的: 本課程為積體電路測試技術課程，期讓學員深入瞭解測試技術。邀請測試領域的專家，詳細介紹傳統與最先進的測試與可測試設計技術。學員在學習之後，不但能夠解決多樣化積體電路(IC)測試的問題，更能夠在設計之中加入測試的概念，設計出高品質與低測試成本的IC。 課程大綱: 1. Testable Digital Design 2. Low-power Testing 3. Test-data Compression 4. Memory Testing 5. Test-structure Design 6. Wafer Acceptance Testing 7. Delay Testing |
收費 * 報名截止日：2018/10/01* 開課日期：2018/10/01~2018/10/11 |